阻抗分析仪IM3570
型号:
品牌:日置/HIOKI

测量模式:LCR,分析仪,连续测量
测量量程:100mΩ~100MΩ
精度:Z:±0.08%rdg.θ:±0.05°
频率:4Hz~5MHz

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产品功能介绍

● 1台仪器实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查
● LCR模式下*快1.5ms(1kHz),0.5ms(100kHz)的高速测量
● 基本精度±0.08%的高精度测量
● 适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量,电感器(线圈、变压器)的DCR和L-Q的测量
● 分析仪模式下可进行扫频测量、电平扫描测量、时间间隔测量
● 可以用于无线充电评价系统TS2400
● 搭配4ch扫描模块机架,更能实现2MHz阻抗的4ch测量

主机不标配治具。请根据您的需求选择选件中的治具和探头。

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    阻抗分析仪IM3570测量方式:压电元件的共振特性的测量

    LCR测试仪和阻抗分析仪合二为一的IM3570通过扫频测量和峰值比较器功能对共振状态进行合格判定,并在LCR模式想能通过1kHz或120Hz的LCR测量进行检查。扫频测量和LCR测量一台仪器全部实现。

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    产品介绍视频


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    2MHz阻抗的4ch测量方案

    详细内容

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    精度计算软件

    仅需输入数值即可轻松计算精度。

  •                            content_1638753171_1.png

    Multi-plot

    该软件能利用既定模型解析电池阻抗数据的等效回路。擅长解析Li-lon电池,特别是数十mΩ的阻抗数据。该Web软件可将数个阻抗数据同时绘制在Nyquist (Cole-Cole)或Bode plot上。
    下载csv文件即可获取解析结果。

  • 基本参数

    测量模式 LCR(LCR测量),分析仪(扫描测量),连续测量
    测量参数 Z、Y、θ、Rs(ESR)、Rp、Rdc(直流电阻)、X、G、B、Cs、Cp、Ls、Lp、D(tanδ)、Q
    测量量程 100mΩ~100MΩ,12档量程(所有参数由Z确定)
    显示范围 Z、Y、Rs、Rp、Rdc、X、G、B、Ls、Lp、Cs、Cp:±(0.000000[单位]~9.999999G[单位],仅Z和Y显示**值
    θ:±(0.000°~999.999°),D:±(0.000000~9.999999)
    Q:±(0.00~99999.99),△%:±(0.0000%~999.9999%)
    基本精度 Z:±0.08%rdg. θ:±0.05°
    测量频率 4Hz~5MHz(10mHz~100Hz步进)
    测量信号电平 V模式,CV模式(普通模式)
    50mV~1Vrms,1mVrms步进(1MHz以下)
    10mV~1Vrms,1mVrms步进(1.0001MHz以上)
    CC模式(普通模式)
    10μA~50mA rms,10μA rms步进(1MHz以下)
    10μA~10mA rms,10μA rms步进(1.0001MHz以上)
    输出阻抗 普通模式:100Ω,低阻抗高精度模式:10Ω
    显示 彩色TFT5.7英寸,可设置显示ON/OFF
    测量时间 0.5ms(100kHz,FAST,显示OFF,代表值)
    测量速度 FAST/MED/SLOW/SLOW2
    其他功能 DC偏压测量,比较功能,面板读取和保存,存储功能
    接口 EXT I/O,RS-232C,GP-IB,USB通讯,U盘,LAN
    电源 AC90~264V,50/60Hz,*大150VA
    打印 拷贝测量值或屏幕显示的要点(需用9442,9593-01和9446)
    接口 GP-IB,RS-232C,EXT.I/O(所有标准)
    电源 AC90~264V,50/60Hz,*大150VA
    体积和重量 330W×119H×307Dmm,5.8kg
    附件 电源线×1,使用说明书×1,通讯手册×1
  • 可选附件
  • 可配套使用的产品(2022年5月)


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      半导体器件的直流偏置特性研究,适用于SiC、GaN、MLCC的偏压测试

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      多通道测试

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  • 软件



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      DC~8MHz,1m长

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      DC~200kH,50 Ω,1 m长

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      线长73cm,DC~8MHz,50Ω,前端电极间隔:0.3~6mm(IM9901:JIS尺

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      测试治具9261-10

      线长1m,DC~5MHz,特性阻抗50Ω,可测端口直径:0.3~1.5mm

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    • 测试治具9262

      测试治具9262

      DC~8 MHz, 直接连接型

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      直接连接型, DC~5 MHz 测试尺寸: 1mm~10.0mm

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      直接连接型,40Hz~8MHz,*大外加电压DC±40V

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    • DC偏置电流单元 9269-10

      DC偏置电流单元 9269-10

      直接连接型,40Hz~2MHz,*大外加电流DC 2A(*大外加电压DC±40V)

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    • 4端子探头 9500-10

      4端子探头 9500-10

      线长1m,DC~200kHz,50Ω,可测导体直径φ0.3mm~2mm

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    • SMD测试治具9677

      SMD测试治具9677

      用于侧面有电极的SMD DC~120MHz,测试样品 尺寸:3.5mm±0.5mm

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    • SMD测试治具9699

      SMD测试治具9699

      用于底部有电极的SMD DC~120MHz,测试样品 尺寸:宽1.0~4.0mm,高1.5

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  • 工厂安装选件


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      回路分析功能/阻抗分析仪选件

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