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> 日置元件参数测试仪
电池测试仪BT3563A(BT3563)
型号:
品牌:日置/HIOKI
阻抗精度:±0.5%rdg±10dgt频率:1kHz±0.2Hz方法:交流4端子法电压精度:±0.01%rdg±3dgt
LCR测试仪 IM3523
型号:
品牌:日置/HIOKI
测量模式:LCR,连续测试量程:100mΩ~100MΩ精度:Z:±0.05%rdg.θ:±0.0...频率:40Hz~200kHz
化学阻抗分析仪IM3590
型号:
品牌:日置/HIOKI
测量量程:100mΩ~100MΩ精度:Z:±0.05%rdg.θ:±0.0...频率:1mHz~200kHz电阻:普通模式:100Ω,低电阻模式:25Ω
LCR测试仪IM3533
型号:
品牌:日置/HIOKI
测量模式:LCR,变压器测试,连续测试量程:100mΩ~100MΩ精度:Z:±0.05%rdg.θ:±0.0...频率:1mHz~200kHz
LCR测试仪IM3536
型号:
品牌:日置/HIOKI
测量模式:LCR,连续测量量程:100mΩ~100MΩ精度:Z:0.05%rdg.θ:0.03...精度保证范围:1mΩ~200MΩ
LCR测试仪 3511-50
型号:
品牌:日置/HIOKI
测量参数:│Z│,θ,C,L,D,Q,R测量源:恒压50mV,500mV,1Vrms(AC...检测:电压,AC频率:120Hz或1kHz
C测试仪 3504-40
型号:
品牌:日置/HIOKI
测量参数:Cs,Cp,DC:0.9400pF~20.0000mFD:0.00001~1.99000频率:120Hz,1kHz
C测试仪3504-50
型号:
品牌:日置/HIOKI
测量参数:Cs,Cp,DC:0.9400pF~20.0000mFD:0.00001~1.99000频率:120Hz,1kHz
C测试仪 3504-60
型号:
品牌:日置/HIOKI
测量参数:Cs,Cp,DC:0.9400pF~20.0000mFD:0.00001~1.99000测量频率:120Hz,1kHz
C测试仪 3506-10
型号:
品牌:日置/HIOKI
测量参数:C,D,Q精度:C:±0.14%rdg.D:±0.0...测量频率:1kHz,1MHz测量信号电平:500mV,1Vrms
阻抗分析仪IM3570
型号:
品牌:日置/HIOKI
测量模式:LCR,分析仪,连续测量测量量程:100mΩ~100MΩ精度:Z:±0.08%rdg.θ:±0.05°频率:4Hz~5MHz
阻抗分析仪IM7580A
型号:
品牌:日置/HIOKI
测量模式:LCR,分析,连续测量精度范围:100mΩ~5kΩ精度:Z:±0.72%rdg.θ:±0....测量频率:1MHz~300MHz
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